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【2h】

Instrumentation Development for Crack Detection of Surface and Subsurface Defects in Green-State P/M Compacts Through Multiprobe Electric Resistivity Testing

机译：通过多探针电阻率测试在绿色状态P / M压块表面和亚表面缺陷的裂纹检测仪器开发

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Over the past two years an electrostatic instrumentation approach has been pursued whereby direct current is injected into green-state powder metallurgy (P/M) compacts followed by subsequent recording of the voltages on the surface. Owing to the fact that P/M specimens are moderate to low conducting samples, even small currents can produce a significant voltage distribution across the surface that can be recorded by an array of sensing probes arranged in a planar or non-planar configuration [1–4]. The presence of flaws, manifesting themselves in conductivity contrasts, can be sensed as a different voltage distribution when compared to the unflawed baseline voltage response.
机译：在过去的两年中，人们一直在追求一种静电仪器方法，该方法是将直流电注入到绿色粉末冶金（P / M）压块中，然后在其表面上记录电压。由于P / M标本是中等到低导电的样品，即使很小的电流也会在整个表面上产生显着的电压分布，这可以通过以平面或非平面配置排列的一系列传感探针来记录[1– 4]。与无缺陷的基准电压响应相比，以导电率差异表现出来的缺陷的存在可以被感知为不同的电压分布。

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